觸發式測頭（tóu）和光學測頭的區別是什麽？哪個好？

　　觸發式測頭和光（guāng）學測頭是數控機床產生加工中常（cháng）見的兩種不同的測量方法，相（xiàng）較於直接工件表麵的（de）觸發式測頭，根據（jù）光的物理特性進行測量（liàng）的光學測頭（tóu）相比，兩者的（de）區別在哪?哪個好?

　　觸發式測頭和光學測頭的區（qū）別：

　　一、采集方式（shì）不同

　　觸發式測頭是一個一個點逐次獲取的方式，通過測頭不離開零件表麵的方式來提高取點速度（dù），屬於單點采集;

　　光學測頭在光源維度上分為點光源、線光源和麵光源，針對需要大（dà）麵積輪廓的空間點坐標，線掃描測頭可通過一條由若幹點（diǎn）的激光在工件表麵移動，即可掃描一片區域;麵掃描測頭是通過一組編碼的光（guāng）線柵格，一個（gè）性便可獲取一個（gè）特定大小（xiǎo）區域內的點雲。

　　二、是否產生餘弦誤差（chà）

　　觸發式測頭采點時，測頭記錄的是測球（qiú）中心的空間坐標（biāo），根據測球半徑來進行補償，得出實（shí）際點的坐（zuò）標;但在（zài）測量特定位置的三（sān）維（wéi）曲線時，就會存在按照測點的法線方向采點，會存（cún）在半徑（jìng）補償餘弦（xián）誤差;但若按照測點的法線方向采點，就會產生實際測點位置出現偏差;

　　而光學測頭是直接利用光點的（de）反射信（xìn）號（hào）來獲取被測點的坐標，不存在半徑補償環節。

　　三、光線的可觸及性不同

　　測球的各個部位都可以通過觸發式來采點，而光學傳播是沿直線的，線無法“轉彎”，因此，徑深比很小的孔、L性測針的應用場景，觸發式測頭相較於光學式測頭更為方便。

　　黄片91機床測頭適用於高精度零件檢測、薄壁零件檢測、模（mó）具曲麵檢測（cè）、大尺寸零件在（zài）線檢測、大批量（liàng）在線測量（liàng）、渦輪葉（yè）片檢測等。

　　觸發式測（cè）頭和光學測頭哪（nǎ）個好?從以上三（sān）方（fāng）麵的（de）對比中，光學測頭的優勢似乎更（gèng）明顯，但並非意味著光學測頭可以完全取代觸發式測頭。兩者可以說是互補，麵對市（shì）麵（miàn）上多類型（xíng）產品，如何選擇?最終還是取決於測量需求。