觸發式測頭和掃描式測頭的區別與應用選（xuǎn）擇

在數控測量係統中，觸發式測頭和掃描式測頭是最常見的兩種類（lèi）型。兩者在工作（zuò）方式、應用場景與（yǔ）測（cè）量精度上各有（yǒu）差異，本文將為（wéi）您詳解其區別與選（xuǎn）型建議。

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一、觸發式測頭（tóu）（Touch Probe）

原理：

- 當測頭接觸工件表麵時觸發信號；

- 係統記錄該點坐標。

特點：

- 適用於（yú）點位測量

- 測（cè）量速度快，精度高；

- 安裝簡單，成本較低。

應用場景：

- 工（gōng）件基（jī）準找正；

- 工件尺寸定位；

- 刀具長（zhǎng）度測量。

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二、掃描式（shì）測頭（Scanning Probe）

原理：

- 測頭在工件表麵連續滑動；

- 實時采集大量點位進行曲（qǔ）麵分（fèn）析。

特點（diǎn）：

- 適用於曲麵、輪廓、複雜幾何測量

- 精（jīng）度極高；

- 對主軸穩定性、環境要求高。

應用場景：

- 高精度模（mó）具測量；

- 精密曲（qǔ）麵檢測；

- 自（zì）動（dòng）閉環加工控製。

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四、結語

選擇觸發式測頭還是（shì）掃描式測頭，應（yīng）根據加（jiā）工需求與（yǔ）預算決（jué）定。蘇州黄片91測量設備（bèi）有限公司可為您量身定製測頭解決方案，適配各（gè）類機床與控製係統。