光學通訊測頭的使用趨勢（shì）

傳傳統的觸摸式三坐（zuò）標丈量機自1956年麵世（shì）以來，現已經過了（le）50多年的（de）發（fā）展。現在（zài）現已廣（guǎng）泛使（shǐ）用於生產車間及科研部（bù）門當中。隨著（zhe）工業技能的不斷進步，對丈量設（shè）備的各方（fāng）麵要求也不斷進（jìn）步，三坐（zuò）標丈（zhàng）量機在此過程中也閱曆了無數次的技能（néng）創新以（yǐ）習慣更高的丈量要求。盡管如此（cǐ），當今三坐標丈量機依然在某些方麵遇（yù）到了一定的技能瓶頸。這些瓶頸的發生不能簡略地歸結於技能創新的（de）不（bú）足，其主（zhǔ）因在於觸摸式三坐標丈量機的硬件結構和丈量原理上的約束。

傳（chuán）傳統三（sān）坐（zuò）標丈量機裝備最（zuì）多的是觸發式（shì）測（cè）頭，用觸（chù）發式測頭丈（zhàng）量物體時，測針以一定（dìng）速度觸摸物體外表，然後使測針的方位發（fā）生偏離，發生的電（diàn）信（xìn）號觸發測頭記載一個（gè）物體外表測點的空（kōng）間坐標。由此帶來的（de）第一個問題就是丈量（liàng）速度較慢。其原因在於（yú），首要觸發式測頭的（de）采點方法對錯接連的，測頭（tóu）在一次采點完成後需（xū）退回一段距離，讓（ràng）測針歸（guī）位後才幹進行第2次采點。而且采點時觸摸物體外表的速度不能太（tài）快，若測針觸摸物體速度過快（kuài）使得測針的方位偏離過大，則信號會被認為是發生了磕（kē）碰（pèng）而采點失敗。出於這（zhè）個原因可以用掃描式測頭代替觸發式測頭，掃（sǎo）描式測頭（tóu）采用的是接連采點方法，因而采點速度得到較（jiào）大（dà）進步。約束丈量（liàng）速度的第二個原因在於，假如被測物體具有比（bǐ）較複雜的幾何形狀，那麽測針需（xū）要變換若幹次指向才幹完成整個丈（zhàng）量，並且測針（zhēn）的每個指向需進行標定。假如要克服這一不足，然後進一步進步丈量速度的話，需要給三坐標丈量機（jī）裝備高端的多軸旋轉掃描測（cè）頭，該項新技能可以以接連（lián）方法高速掃描物體（tǐ）進（jìn）行采點。