觸發測頭掃描測頭的優劣勢分析

觸發測頭（tóu）的優勢及劣勢

優    勢：

1：適於空間棱柱形物（wù）體及已知表麵的測量；

2：通用性（xìng）強，

3：有（yǒu）多（duō）種不同類型的觸發測頭及附件供采用；

4：采購及運行成本低；

5：應（yīng）用簡單；

6：適用於尺寸測量及在線應用；

7：堅固耐用；

8：體積小，易於在窄小空間應（yīng）用；

9：由於（yú）測點時測量（liàng）機處於勻速直線低速運行狀態，測量機的動態性能對測量精度影響較小；

劣    勢：測量取點率低。

掃描測頭的優勢（shì）及劣勢：

優    勢：

1：適於形狀及輪（lún）廓測量；

2：采點率高；

3：高密（mì）度采點保證了良好的重（chóng）複性、再（zài）現性；

4：更高級的（de）數據處理能力；

5 : 高精（jīng）度測（cè）量：掃描測頭對離散點測量是勻速或恒測力采點，其測點（diǎn）精度可（kě）以更高；由（yóu）於（yú）掃描測頭（tóu）可以直接判斷接（jiē）觸點的法矢，對於要（yào）求嚴格定位、定（dìng）向測量的場（chǎng）合，掃描測頭對離散點的測量也具有（yǒu）優勢；

6 : 對於未知曲麵（miàn）的（de）掃描，亦即稱為數字（zì）化的場合下，掃描測頭顯（xiǎn）示出了它的獨特優勢：因為數字化工作方式時，需要大（dà）量的點，觸發式測頭的（de）采點（diǎn）方式顯得太慢；由於是未知曲（qǔ）麵，測量機運動的控製方式（shì）亦不一（yī）樣，即在“探索方式”下工作：測量機根據已運動的軌（guǐ）跡來計算下一步運動的軌跡、計算采點密度等（děng）。

劣    勢：

1：比觸發測（cè）頭複雜；

2：對離散點的測量較觸發測頭為慢；

3：高速掃描時由於加速度而引起的動態誤差很大（dà），不可忽略，必須加以補償（cháng）；

4：測尖的磨損必須注意。

選擇測頭

的幾點（diǎn）考慮

1：在可以應用接觸式測頭的（de）情況下，慎選非接觸式測頭；

2：在隻測尺寸、位置要素的情況下盡量選接觸式觸發測（cè）頭（tóu）；

3：考慮（lǜ）成本又（yòu）能滿足要求（qiú）的情況下，盡（jìn）量選接觸式觸發測頭；

4：對形狀及輪廓精度要求較高的情況下選用掃（sǎo）描測頭；

5，掃描測頭應當可以對離散點進行測量；

6：考慮掃描測頭與觸發測頭的互換性（xìng）（一般用通用測（cè）座來達到）；

7：易變形零件、精度不高零件、要（yào）求超（chāo）大量數據零件的測量（liàng），可以考慮（lǜ）采用       非接觸（chù）式測頭；

8：要（yào）考慮軟件、附加（jiā）硬件（如（rú）測頭控製器、電（diàn）纜）的配套。