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行業新聞

觸發測頭掃描測頭的優劣勢分析

發布日期:2022-03-09 09:55:53  點擊次數:9630

觸(chù)發測頭的優勢及劣(liè)勢


優    勢:

1:適於空間棱柱形物體及已(yǐ)知表麵的測量;

2:通(tōng)用性強,

3:有多種不同類型的觸發(fā)測頭及附(fù)件供采用;

4:采購及運行成本低;

5:應用簡單;

6:適用於尺寸測量及在線應用;

7:堅固耐用;

8:體積小,易於在窄小空間應用;

9:由(yóu)於測(cè)點時測量機處於勻速(sù)直線低速運行狀態,測(cè)量機的動態性能(néng)對(duì)測(cè)量精度影響較小;

劣(liè)    勢:測量取點率低。



掃描測頭的優勢及劣勢:

優    勢:

1:適於形狀及輪廓測量;

2:采點率高;

3:高密度采點保證了良(liáng)好的重複性、再現性;

4:更高級的數(shù)據處理能力;

5 : 高精度測量:掃描測頭對離散點測量是勻速或恒測力采點(diǎn),其測點精(jīng)度可以更高;由於(yú)掃描測頭可以直接判斷接觸點的(de)法矢(shǐ),對於要求嚴格定位、定向測量的場合,掃描測頭對(duì)離散點的測量也具有優勢;

6 : 對(duì)於未知曲麵的(de)掃描,亦即稱為數字(zì)化的場合下,掃描測頭(tóu)顯示出(chū)了它的獨特優勢:因為數字化工作方式時(shí),需(xū)要大量的(de)點,觸發式測頭的采點(diǎn)方式顯得太慢;由於(yú)是未知曲麵,測量機(jī)運動的控製方式亦不一樣,即在“探索方式(shì)”下工作:測量機根據已運動的軌跡(jì)來計算下一(yī)步運動的軌跡、計算采點密(mì)度等。

劣    勢:

1:比觸發測頭複(fù)雜;

2:對離散點的測(cè)量較觸(chù)發測頭為慢;

3:高速掃描時由於(yú)加速度(dù)而(ér)引起(qǐ)的動態誤差很大,不可忽略,必須加以補償;

4:測尖的磨損(sǔn)必須注意。


選擇(zé)測頭

的(de)幾點考(kǎo)慮

1:在(zài)可以應用接觸式測頭的情(qíng)況下,慎選非(fēi)接觸式測頭(tóu);

2:在隻測尺寸、位置要(yào)素的情況(kuàng)下盡量選(xuǎn)接觸式觸發測頭;

3:考慮成本又能滿足要求的情況下,盡量選接觸式觸發測頭;

4:對形狀及輪廓精度(dù)要(yào)求較高的情況(kuàng)下選用掃描測頭;

5,掃(sǎo)描測(cè)頭應當可以對離散點進行測量;

6:考慮掃描測頭與觸發測頭的互換性(一般(bān)用通用測座來達到);

7:易變形零(líng)件、精度不高零件、要求超大量數據零件的測量,可以(yǐ)考慮采用       非接觸(chù)式測頭;

8:要考慮軟件、附加硬件(如測頭控製器(qì)、電纜)的配套。

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